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NSTAR-200近紅外光譜透反射性能測量系統
集透射和反射測量于一體，波段覆蓋780-1600nm NSTAR-200近紅外光譜透反射測量系統集反射和透射測量功能于一體，用于測量材料的光譜反射率/光譜透過率，測量波段范圍覆蓋780-1600nm。系統應用遠方公司多項專利技術，可快速精確測量近紅外寬波段范圍內光譜透反射率，系統測量靈敏度高，穩定性、復現性好，雜散光小，可滿足較低透反射率的深色樣品測量，主要用于各類材料研發實驗室。主要特點： ● 兼容反射和透射測量：反射測量d/8，SCI和SCE可選；透射測量為d/0幾何； ● 附NPL溯源標準色板，溯源性好； ● 穩定性好，測量精度高，滿足較低透反射率的深色樣品測量。
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